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HS-CA2半自动硅片厚度TTV测试仪
HS-CA2半自动硅片厚度TTV测试仪特征■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量■测量范围：0～2mm■分辨率：0.1m■微电脑控制、液晶显示■菜单式界面、PVC面板操作■接触式
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2013-01-31 |
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手动硅片测厚仪
适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度精确测量。特征液晶显示接触式测量手动测量模式数据实时显示具有输出接口，可选配适配器实现232接口功能技术指标测量范围：0～12.7
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2013-01-31 |
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籽晶 圆籽晶/方籽晶/锥形籽晶（直拉单晶）
圆籽晶\方籽晶 - 供应规格 型号 圆籽晶规格 型号
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2013-01-31 |
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碳化硅籽晶
产品介绍-碳化硅籽晶（SiC晶种）:SiC的物理和电学属性使其成为短波长光电、高温、耐辐射、高功率/高频率电子器件的*半导体材料。然而生长*的SiC单晶非常困难，其中第
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2013-01-31 |
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美*准太阳能电池
产品介绍:美*准太阳能电池*于校准太阳模拟器的辐照。也可以使用（配套设备）来衡量太阳模拟器时间稳定性和/光束的非均匀性。另外，还可以用来IV测量系统光电流强度来
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2013-01-31 |
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