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便携式LED光谱测试仪
便携式LED光谱测试仪,能准确测量照度，色标座，光谱图，光谱峰值，色温，CRI，主波长，CIE1931/CIE *色彩坐标等参数。主要运用与发光二极管LED的颜色和亮度、LCD背光亮
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2013-01-31 |
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太阳能电池I-V特性分析系统
产品介绍:太阳能光伏电池的所有性能表征手段中，IV特性测试无疑是*直观、*有效、*被广泛应用的一种方法。我公司进口美国PET-CC太阳能电池I-V特性分析系统系列设备可以分
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2013-01-31 |
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手动无接触硅片测试仪：HS-NCS-300
手动无接触硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度、总厚度变化 TTV 、弯曲度，该仪器适用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等几乎所有的材料，所有的设计都符合 ASTM( 美国
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2013-01-31 |
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无接触少子寿命扫描仪
合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S3)■ 无接触和无损伤测量■ 自动测量，具有传送系统，可进行连续测量■ 快速测量，测试扫描速度达到2000mm/min■ 测试范围广：包括
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2013-01-31 |
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太阳能电池片数片机
太阳能电池片数片机产品介绍:太阳能电池片数片机，可对太阳能硅片及电池片进行准确计数分析。是一款简洁、*、精确、*的数片机。同时可配合barcode系统进行产品管理
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2013-01-31 |
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半自动无接触厚度TTV测厚仪
■适用于硅片等各种材料的厚度TTV精确测量■测量范围：0～2mm■分辨率：0.1m■微电脑控制、液晶显示■菜单式界面、PVC面板操作■接触式测量■测头自动升降■手动、自动双重
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2013-01-31 |
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RA2000圆度测试仪
RA2000圆度测试仪产品介绍:RA2000是一种操作简便的测量仪，用于对工件的几何尺寸特别是圆度进行精确测量。此设备保证测量的准确性，为产品品质提供*的保障。产品特点：
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2013-01-31 |
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金属四探头电阻率方阻测试仪- HS-MPRT-4
用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻
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2013-01-31 |
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